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    便攜式數字探傷儀如何調試雙晶探頭

    便攜式數字探傷儀如何調試雙晶探頭

    聯合雙探頭(分割型探頭)俗稱雙晶探頭。分為接觸式縱波聯合雙探頭和接觸式橫波聯合雙探頭。即雙晶直探頭和雙晶斜探頭。雙晶探頭的結構是兩個單探頭的組合一個用于發射一個用于接收發射電脈沖不進入接收電路因此不受探傷儀器放大器的阻塞影響可以探測近表面缺陷。收發探頭都有各自的延遲塊而且兩個延遲塊的聲束入射平面均帶一傾角傾角的大小則取決于要探測區域距探測面的深度。本文介紹的是友聯探傷儀雙晶探頭調試方法。


    所選探頭和試塊

    1.雙晶探頭:5P20FG  F10

    2.試塊:階梯試塊


    操作步驟

    一.開機

    開啟儀器電源開關按<¿>鍵進入探傷界面將探頭分別與儀器的收發端連接使儀器處于正常工作狀態。

    二.選擇通道號

    按<通道>鍵在“通道”調節狀態下再按<╋>或<━>鍵選擇某一通道。

    三.參數清零

    在功能菜單中選擇“0初始化”初始化當前通道。

    四.設置參數

    在設置菜單中設置探頭類型為“雙晶探頭”探頭頻率為5MHz,晶片尺寸為20.0按<確認>鍵退出設置菜單。

    五.調試

    (一)測零點(測聲速)

    在測試菜單中選中“1測零點聲速”預置工件聲速為“5900 m/s”一次回波聲程輸入12mm,二次回波聲程為24mm(或選擇與探頭焦點深度相近的試塊上兩處底波作為一次聲程與二次聲程)按<確認>鍵開始測試。找到階梯試塊上深12mm處的大平底波將探頭在上面移動由于雙晶探頭零點較長目標回波可能不在門內甚至不在屏幕顯示范圍內此時可調節聲程、門位使波處于門內再按<返回>鍵恢復測試。當其一次回波出現在進波門內時確認穩住探頭不動等12mm處二次回波上升至80%時(一般二次回波已預置在門內)再次確認按<y>存儲測試數據。

    DAC曲線

    (二)雙晶探頭DAC

    如需制作DAC曲線在零點聲速測完后可在測試菜單中選中“3制作DAC”根據相應參考試塊制作。制作方法參見斜探頭DAC法。

    注:        雙晶探頭存在焦點深度測零點聲速時注意選取與焦點深度接近的試塊作為一次聲程否則測得的零點聲速誤差可能較大。

    因為焦點附近的回波最高,由薄至厚制作DAC曲線所做出曲線與常規斜探頭DAC曲線形狀有可能不同(可能呈山峰狀)。

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